然而由芯片所诱发的电磁兼容(EMC=EMI+EMS),若到产品设计后段(终端产品)才正视,将更难解决。因此在芯片设计时间,就应了解芯片 EMC状态,并对芯片实施电磁干扰防治措施,将可大幅降低电磁干扰产生的机率与产品修改成本。
iST宜特检测可以提供:
TEM Cell横向电波室测试:判定芯片噪声的放射等级,提供芯片稳定性的有效数据,对产品质量及技术性能做把关。Near Field Scanner近场扫描量测:以极高空间分辨率的芯片等级近场探棒,与高精密度的移动手臂,量测噪声强度分布范围,可完全透视芯片/PCB表面电磁辐射干扰确切位置。服务优势:
从芯片 EMl电路板Layout/制作,到芯片 EMI量测/分析,均能够提供完整测试服务,并依照规范出具试验结果比对报告。